厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

簡(jiǎn)要描述：美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&amp;amp;WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2024-05-15
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XRF樣品杯/樣品膜

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厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250

邁拉膜、麥拉膜、XRF樣品膜、X-RAY樣品膜、ROHS測(cè)試膜、X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、mylar膜--美國(guó)Chemplex 250#

現(xiàn)貨供應(yīng)：XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測(cè)試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國(guó)Chemplex樣品膜

品名：XRF樣品膜Sample Film

目錄編號(hào)CAT.NO：250

產(chǎn)品信息：Mylar膜(邁拉膜、麥拉膜），卷軸，厚度6.0 μm，寬7.6cm x 長(zhǎng)91.4m，1卷/盒

品牌：美國(guó)Chemplex Industries.Inc.（*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1盒以上。

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。